Ionen-Mikroskop
Die Ionen-Mikroskopie (IM) ist eine Spezialanwendung der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS), die in Kapitel 4.4 beschrieben wird. Bei dieser Technik wird eine Probenoberfläche mit einem Primärionenstrahl beschossen, wodurch sekundäre Ionen aus der Probe erzeugt werden, die in einem Massenspektrometer analysiert werden können. Wenn der Sekundärionennachweis ortsaufgelöst erfolgt, kann man mit SIMS ein Abbild bestimmter Elemente der Probenoberfläche erzeugen und so laterale Elementverteilungen direkt visuell darstellen. Mittels rechnergestützter Methoden lassen sich diese digitalen Bilder auswerten und weiterverarbeiten, um zum Beispiel dreidimensionale Konzentrationsverteilungen oder Isotopenverhältnisprofile zu berechnen.
Stadermann and Floss (2000) In Physikalisch-Chemische Untersuchungsmethoden in den Geowissenschaften (M. K Pavicevic and G. Amthauer, eds.), 85-87.
Last revised: 12-2003